高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、濕熱及交變溫度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能，適用于學(xué)校，工廠，**，研位，等單位。出現(xiàn)故障應(yīng)及時(shí)維修，以便更好的進(jìn)行各種性能測(cè)試。

一、    概述：

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱又稱(chēng)可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱，對(duì)各種材料在不同環(huán)境下耐熱、耐寒、耐干、耐濕引起氧化、融化、開(kāi)裂、脆化、物理性收縮、機(jī)械強(qiáng)度等性能可靠性以及耐久性試驗(yàn)。

適用于航天航空、電子、通訊、**、塑膠、五金、家用電器、汽車(chē)、化工、印刷品、零部件、 原材料及涂層、鍍層進(jìn)行高低溫、濕度環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。

是航空航天、船舶、兵器、光電顯示技術(shù)、手機(jī)、電容、微馬達(dá)、電力、照明、微電子、電氣、通訊、石油化工、高等院校、科研單位等行業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備。

二、  產(chǎn)品執(zhí)行及符合標(biāo)準(zhǔn)

   1、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2006（IEC68-2-2）

   2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2006（IEC68-2-3）

   3、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)Da: 交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）

4、GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法

5、GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法

6、GJB150.9-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》

7、GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：恒定濕熱試驗(yàn)》

8、GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：交變濕熱試驗(yàn)》

9、GJB367.2-1987《**通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》 濕熱試驗(yàn)

10、GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

11、GB/T5170.5-96《濕度試驗(yàn)設(shè)備》

12、GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

13、GB/T10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

14、GB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

15、GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》